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? SEM是掃描電鏡,所加電壓比較低,只是掃描用的,相當(dāng)于高倍的顯微鏡TEM是透射電鏡,所加電壓高,可以打透樣品,觀察內(nèi)部結(jié)構(gòu)STEM是掃描透射,是掃描電鏡里面
發(fā)布于2023-04-17
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高源
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